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NTU_EE_TEST
[討論] C17 pattern: 01111 -> 11101
作者:
monkey36
(神猴)
2012-10-28 09:51:01
其實就是doc裡面的例子
我的和助教的reference_v1都是找出5個faults
但reference_v2是找出6個
多一個 G23/B 的STF
有點不太理解
如果inject這個fault去跑timed fault simulation的話
G23/Y 0->1 這個事件應該先被 G23/A 1->0 在時間0.579時就安排了
不知道 G23/B 的STF會造成什麼影響 Q Q
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monkey36
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