[新聞] IC測試~

作者: Albim (不要問我為什麼)   2013-04-10 11:57:12
IC測試是IC製造流程中重要的一環,一般可分成兩個階段,其中在切割、封裝前的測試為
IC晶圓測試(Wafer Test),其目的在針對晶片作電性功能上的測試,使IC在進入封裝前能
先行過濾出電性功能不良的晶片,以降低IC 成品的不良率,減少製造成本的耗費。而封
裝成形後的測試為IC成品測試(Final Test),其目的在確認IC 成品的功能、速度、容忍
度、電力消耗、熱力發散等屬性是否正常,以確保IC 出貨前的品質。對IC 製造廠商而言
,測試實為一不可缺少之關鍵製程。專業的IC測試服務廠,主要係以精密之高科技機器設
備,利用測試程式模擬IC各種可能之使用環境及方法,例如在高溫、低溫、電壓不穩及電
壓偏高或偏低等惡劣環境與一般正常使用狀況下,將受測IC置於此模擬環境中,測試其工
作狀態是否在規格範圍內,以確保IC 之品質。
全文網址:
http://www.moneydj.com/kmdj/wiki/wikiviewer.aspx?keyid=806db4e4-18c8-4bba-9f8a-ff249a4ea511#ixzz2Q1t0p19x
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我一直覺得這塊很重要!!!!!!!
各位前輩覺得呢?
作者: loveices (交大松本潤)   2013-04-10 12:24:00
在版上只要不是rd都會被酸沒前途
作者: lavigneA (弱到掉渣)   2013-04-10 12:37:00
不是RD 沒前途
作者: USkitty (天涼了,要注意身體喔)   2013-04-10 12:51:00
國外大廠的測試工程師都是隸屬於RD部門的
作者: Albim (不要問我為什麼)   2013-04-10 13:18:00
測試工程師→應該算RD!我想這塊人才應該會很缺!!
作者: summer08818 (........)   2013-04-10 13:48:00
Chip裡面專門做DFT ciucuit 的也是RD阿...
作者: summer08818 (........)   2013-04-10 13:52:00
DFT design很缺 但如果只是測版子和用機台 那不缺...
作者: WenliYang (羊蹄嘟)   2013-04-10 14:27:00
台灣測試大多.......
作者: wumingxian (WU)   2013-04-10 14:40:00
樓上大概不知道現在的SoC有哪家廠商敢不用DFT吧就連記憶體都要有好的BIST配合,來降低測試成本了
作者: MHWU (~~)   2013-04-10 14:48:00
一堆人看到測試只會酸。殊不知越大的IC設計廠越重視可測試設
作者: MHWU (~~)   2013-04-10 14:49:00
計,沒有DFT RD幫忙做internal scan chain,IEEE 1149.1(1500)
作者: MHWU (~~)   2013-04-10 14:50:00
你生產出來的chip根本沒辦法上ATE,沒測試過的chip誰敢買?
作者: MHWU (~~)   2013-04-10 15:05:00
隨著chip日益複雜,如何在增加最少的DFT overhead達到最高的
作者: MHWU (~~)   2013-04-10 15:08:00
fault coverage且滿足spec.的timing constrain,這些更突顯
作者: MHWU (~~)   2013-04-10 15:09:00
DFT RD經驗值的重要性。不要一味認為測試就只有測版子上機台
作者: Albim (不要問我為什麼)   2013-04-10 15:27:00
樓上前輩講得很棒阿!!
作者: globedon   2013-04-10 22:24:00
所以應該是"可測試性工程師"以及"測試工程師"
作者: globedon   2013-04-10 22:25:00
二種工程師都很重要!

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