[請益] Design for testability 學習 ggggggh PTT批踢踢實業坊

[請益] Design for testability 學習

作者: ggggggh (ggggggh) 2015-06-14 17:35:07

大家好小弟不常發文有問題請告知我自刪
是這樣的我目前為IC 後段測試工程師負責寫封測端的測試程式
但想要學習Design for testability 中的JTAG,MBIST,SCAN chain, ATPG
請問有什麼書or何處有相關資料
Thanks

作者: ggggggh (ggggggh) 2015-06-14 17:43:00

我目前到處wiki & google 比較缺乏系統學習資料...

作者: jghn1119 (受不了的酷) 2015-06-14 17:47:00

直接拿寫好的程式看，外加查menu

作者: color529 (color) 2015-06-14 18:27:00

拿寫好的程式看?? 我誤會什麼了？原PO列的這些DFT都是數位IC提高可測試度所增加的硬體電路。目前都有專屬的EDA Tool可以做可測試度的規劃與安排，大型的IC廠都由CAD team負責。拿寫好的程式能看出什麼? 你頂多看的到test pattern罷了國內有幾個DFT領域的大咖，吳誠文，王行健，李昆忠，etc.可以去旁聽或者問問使用的教課書

作者: kira1116 (kira1116) 2015-06-14 18:37:00

純推吳誠文

作者: color529 (color) 2015-06-14 18:39:00

基礎推薦:VLSI TEST PRINCIPLES AND ARCHITECTURES:Design for testability

作者: ggggggh (ggggggh) 2015-06-14 18:41:00

感謝小弟懂後段測試ATE& 設計一些verilog, 想要嘗試慢慢

作者: color529 (color) 2015-06-14 18:42:00

進階就System on chip test architectures:Nanometer design for testability, 此書只要整合了DFT領域的代表會議或期刊論文，討論較深

作者: ggggggh (ggggggh) 2015-06-14 18:45:00

轉變至也懂DFT,或許日後可以做DFT eng.. Thnaks.

作者: color529 (color) 2015-06-14 18:45:00

這兩本書是小弟研究所選修DFT,大咖教授的指定用書，供你參考

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