作者:
ggggggh (ggggggh)
2015-06-14 17:35:07大家好 小弟不常發文 有問題請告知 我自刪
是這樣的 我目前為IC 後段測試工程師 負責寫封測端的測試程式
但想要學習Design for testability 中的JTAG,MBIST,SCAN chain, ATPG
請問有什麼書or何處有相關資料
Thanks
作者:
ggggggh (ggggggh)
2015-06-14 17:43:00我目前到處wiki & google 比較缺乏系統學習資料...
作者:
jghn1119 (受不了的酷)
2015-06-14 17:47:00直接拿寫好的程式看，外加查menu
作者: color529 (color) 2015-06-14 18:27:00
拿寫好的程式看?? 我誤會什麼了？ 原PO列的這些DFT都是數位IC提高可測試度所增加的硬體電路。 目前都有專屬的EDA Tool可以做可測試度的規劃與安排， 大型的IC廠都由CAD team負責。 拿寫好的程式能看出什麼? 你頂多看的到test pattern罷了國內有幾個DFT領域的大咖， 吳誠文， 王行健， 李昆忠，etc.可以去旁聽或者問問使用的教課書
作者:
kira1116 (kira1116)
2015-06-14 18:37:00純推吳誠文
作者: color529 (color) 2015-06-14 18:39:00
基礎推薦:VLSI TEST PRINCIPLES AND ARCHITECTURES:Design for testability
作者:
ggggggh (ggggggh)
2015-06-14 18:41:00感謝 小弟懂後段測試ATE& 設計一些verilog, 想要嘗試慢慢
作者: color529 (color) 2015-06-14 18:42:00
進階就System on chip test architectures:Nanometer design for testability, 此書只要整合了DFT領域的代表會議或期刊論文，討論較深
作者:
ggggggh (ggggggh)
2015-06-14 18:45:00轉變至也懂DFT,或許日後可以做DFT eng.. Thnaks.
作者: color529 (color) 2015-06-14 18:45:00
這兩本書是小弟研究所選修DFT,大咖教授的指定用書，供你參考