各位正在準備考試的同夥大家好
本人是通訊所的考生
因為目前大學專題有一道相關的問題需要解決
ex:實際案例如下
1. 元件量測儀器是一台非常老舊的機台，
導致每次量測出來的結果的variation很大，
有可能是在非常準測的儀器之下量到的sigma很小，
但用此台老舊儀器量測出來的結果就變成很常大的sigma了.
2. 所以我盡可能的多量測元件，是想說很多元件量測結果資料可以攤平
儀器上的量測誤差.
3.請問各位大大，有相關文獻是在探討上面的主題的嗎?
ex: 需要量測幾點元件數據就能有效把大的sigma縮小成小的sigma.
非常不好意思，把這個問題po在此版，是想問有沒有人可以提供相關
的線索或是資料可以提供小弟我參考參考.
先謝謝各位了.