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tech_job
[請益] 請問有大大知道Pattern density嗎?
作者:
doourbest23
(miaw)
2017-07-30 00:15:49
如題
請問大大知道Pattern Density effect嗎?(也有人稱為Loading effect)
知道Pattern Density與u-trench/fence/facet的關係嗎?
Pattern Density 與EPD(End point detection)之間有何關係嗎?
作者:
jerry31528
(喇叭鎖~喇叭鎖~)
2017-07-30 00:30:00
轉到蝕刻半年你就懂了
作者: dubian77
2017-07-30 00:34:00
哈哈 居然看的懂!颱風天問這個真是有向學的心,我不是蝕刻,但是我覺得你問的問題paper 上有喔,試著找找看吧!
作者:
e76628
(兩佰)
2017-07-30 00:38:00
難得清流! 加油
作者:
xcri0922
(蛇)
2017-07-30 12:40:00
Clear ratio曝光後特定區域吃得慢叫Macroloading effect, 反之叫Microloading effect ?? 剛查到的, 我最近也suffered這問題一陣子~~
作者:
vmcld9
(vmcld9)
2017-07-30 13:10:00
我的理解啦macroloading effect 是指etch時因為面積太小,所以吃不下去, loading effect 是因為die有些地方有pattern有些地方沒有,所以在一起etch時,會吃不均勻~~sorry,請把macro改成micro
作者:
xcri0922
(蛇)
2017-07-30 13:20:00
還在學習, 感謝Vm大大~~
作者:
chaoskyuriop
(樹妖)
2017-07-30 14:44:00
給你關鍵字 ARDE 與 RIE lag 有興趣可以多看看第二個問題的話 通常來講 PR在wafer上佔的面積越少Endpoint越好抓原因是有顯開的地方 才是主要蝕刻的部分 若蝕刻都在吃光阻 endpoint訊號是要抓什麼XD
作者:
smartl
(史瑪特丸)
2017-07-30 18:40:00
樓上EPD觀念有問題唷。End point capture主要不是看hole內或trench內。主要是看hole外的by product或是反應物。
作者:
negohsu
(專打不專業環團)
2017-07-30 18:49:00
一般hole沒有EP
作者:
chaoskyuriop
(樹妖)
2017-07-31 09:58:00
對蝕刻而言哪有分hole的內外 外就是光阻 內就是沒光阻才吃的下去 ep就是再抓沒光阻的地方 gas跟被蝕刻物的反應物發出的emission spectra所以如果今天hole的open ratio足夠大 , wafer上滿滿的洞 是有可能抓得到ep的這部分歡迎站內討論 剛好最近有遇到相關的issue
作者:
negohsu
(專打不專業環團)
2017-07-31 19:05:00
一般來說hole要夠多夠大才有機會抓,一般的contact ,via就別想了。此外,有一種蝕刻過程中可以直接計算蝕刻深度的,忘了簡寫,也許有機會透過偵測PR thickness來當EP
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